首页 >涂层设备 >涂层中心 > 检测设备

小图6.jpg  
星弧涂层厚度测量仪Starspherics-02是一款可用于各种薄膜和涂层厚度的测量仪器,所测量的涂层不受成份、硬度等各种因素的限制。它的操作简单,维护成本较其它类型的测厚仪更低。
    Starspherics-02膜厚测量原理是通过磨球在膜层上磨制成球面并测量球面的半径从而计算出膜层的厚度。测厚仪由球磨机构、高倍显微镜、微电脑及测试软件组成。

功能和技术特性 :
  测量厚度:>100nm 
  适用涂层:各种单一和复合涂层,如DLC、TiN等
   硬涂层、TiN和SiO2陶瓷或电镀涂层
   中文测量软件界面
   仪器外形尺寸: 450X400X500mm
   其他功能: 涂层耐磨性、结构和表面形貌

测厚仪主要部件:
  球磨机构
  高倍测量显微镜(350倍)
  微电脑及中文界面的测量软件
ico1.jpg